氙离子推力器寿命试验与可靠性评估方法 林逢春; 王宗仁; 耿海; 王敏 中国空间技术研究院通信卫星事业部; 北京100094; 兰州空间技术物理研究所; 甘肃兰州730000 摘要:针对氙离子推力器长寿命验证问题,分析了氙离子推力器的故障机理,指出加速栅离子溅射腐蚀是决定推力器寿命的主要故障模式。在此基础上,给出了基于离子溅射腐蚀的氙离子推力器寿命试验与可靠性评估方法。最后,使用该方法对某型氙离子推力器的可靠性进行评估,根据寿命试验数据,得出该型推力器累计点火工作一定时间的可靠度结论,提供了该评估方法的工程应用实例。 注: 保护知识产权,如需阅读全文请联系质量与可靠性杂志社
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